Oturum açın

Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]

Download

Kaydol

Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]

Download

Omron'a kaydolduğunuz için teşekkür ederiz

Hesabınızı tamamlamanız için şu adrese bir e-posta gönderildi:

Web sitesine geri dönün

doğrudan erişim

Bilgilerinizi aşağıya girin ve bu sayfadaki içeriğe doğrudan erişin

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]

Download

Gösterdiğiniz ilgi için teşekkür ederiz

Artık şuna erişebileceksiniz: Yarı iletken üretim sürecinde FOUP'lerin izlenmesi

Şu adrese bir onay e-postası gönderildi:

Sayfaya devam edin

Bu belgeyi indirmek için lütfen veya doğrudan erişim edinin

Yarı iletken üretiminde FOUP'lerin izlenmesi; kontaminasyon kontrolü, süreç optimizasyonu, verim iyileştirme, kalite kontrol ve uyumluluk açısından önemlidir. Plakaların korunmasını sağlar, iş akışını optimize eder, verimi artırır ve kaliteyi korur.

Uygulama: FOUP izlenebilirliği

Çok sayıda FOUP'nin yönetilmesi, çok sayıda verinin işlenmesi, mevcut sistemlerle entegrasyon, otomasyon doğruluğunun sağlanması, çevresel faktörlerle ilgilenme ve endüstri standartlarına uyum gibi nedenlerden dolayı yarı iletken üretiminde FOUP'lerin etkili bir şekilde izlenmesi zor olabilir.

Çözümümüz: Tam süreç izlenebilirliği için RFID

OMRON'un RFID teknolojisi; kimyasal direnç, Texas Instruments'ın standart cam vericileriyle uyumluluk (okuma ve yazma) ve SECS I/II protokolü desteği dahil olmak üzere yarı iletken uygulamaları için amaca yönelik özellikler sunar.

Bu gelişmiş çözüm beş SEMI standardı ve SECS/GEM'yi destekleyerek yarı iletken fabrikalarında FOUP'ler ve POD'lerin tutarlı bir şekilde işlenmesini sağlar. SEMI'ye özel olarak tasarlanan bu teknoloji, plaka korumasını iyileştirmenin ve iş akışını optimize etmenin yanı sıra verimi ve kaliteyi artırır.

Etkinleştirme Teknolojileri

V640 SEMI

Yarı iletken uygulamaları, kimyasal direnç ve tanımlama sistemleri protokolü açısından özel ürün özellikleri gerektirir. OMRON'un V640 modeli, örneğin hem Texas Instruments'ın standart cam vericileriyle hem de SECS I/II protokolüyle haberleşme gerçekleştirebilir.

İlgili Ürünler

Daha fazla bilgi almak ister misiniz?

Uzmanlarımıza Danışın

+90 (216) 556 51 30
Bizimle iletişime geçin

İletişime geçin Plaka FOUP İzlenebilirliği

digital semiconductors applications wafer foup traceability fcard sol

* ile işaretli bölümleri doldurmak zorunludur. Kişisel bilgileriniz gizli kalacaktır.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Teşekkür ederiz. Talebiniz konusunda en kısa sürede bilgilendirileceksiniz.

Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]

Download
+90 (216) 556 51 30
+90 (216) 556 51 30