ZX2
Stabil, kolay ve bütçeye uygun lazer ölçüm sensörü
Bütçeye uygun fiyata yüksek doğruluk ve ölçüm stabilitesi. Yeni ZX2 lazer sensörü doğruluk için sınıf performansının ve tüm doğrusal yer değiştirme uygulamaları için hızın en iyisini sunar. Gelişmiş HSDR-CMOS görüntü sensörü kullanılarak en zorlu yüzeylerde bile yüksek ölçüm stabilitesi elde edilir.
- Tek dokunuşta kurulum
- Doğruluk: 1,5–5 µm
- Her türlü yüzey
- Yüksek hız: 30 µs
Özellikler ve sipariş bilgisi
| Ürün | Geometrical resolution | Measuring range length | Relative linearity deflection | Output type | Sensing distance | Sensing distance (min.) | Sensing method | Spot size | Height of sensor | Width of sensor | Overall length of sensor | Açıklama | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.1 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.05 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 2.7 mm x 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.1 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.05 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 2.6 mm x 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 43-53 mm | 0.3 % | 48 mm | 43 mm | Background suppression | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor head, 48 +/- 5mm, spot focus (requires amplifier), glass-mirror-wafer applications |
|
|
|
|
NPN | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, NPN output, 2 m cable |
|
|||||||||
|
|
PNP | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, PNP output |
|
Size nasıl yardımcı olabiliriz?
Sorularınız veya fiyat teklifi almak için lütfen bizimle iletişime geçin ya da bir talep gönderin.
İletişime geçin ZX2
Teşekkür ederiz. Talebiniz konusunda en kısa sürede bilgilendirileceksiniz.
Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]
DownloadIçin teklif ZX2
Bu form ile seçtiğiniz ürün için bir teklif isteyebilirsiniz. * ile işaretli bölümleri doldurmak zorunludur. Kişisel bilgileriniz gizli kalacaktır.
Talebiniz için teşekkür ederiz. En kısa zamanda size bilgi verilecektir.
Teknik zorluklar yaşamaktayız. Form gönderme işleminiz başarılı olmadı. Lütfen özürlerimizi kabul edin ve daha sonra tekrar deneyin. Detaylar: [details]
DownloadÖzellikler
HSDR CMOS görüntü sensörü
ZX2, yeni geliştirilen Yüksek Hız ve Dinamik Aralık (HSDR) CMOS görüntü sensörü kullanır. Bu sayede doğruluk kaybı olmadan yüksek emici ile yüksek yansıtıcı aralığındaki yüzeylerde stabil ölçüm elde edilir. ZX2 sürekli alınan ışık seviyesini izler ve lazer diyotu çıkışını dengelemek üzere ayarlar ve tüm bunlar 60μs'lik zaman döngüsünde gerçekleşir.
Kolay kurulum
ZX2 Kolay Kurulum ZX2 uzun parametre ayarlamalarıyla yapılan karmaşık kurulum ihtiyacını ortadan kaldırır. Yüzey türünü ölçüm için tanımlayarak sensörü yapılandırmak amacıyla akıllı bir düğme kullanılır.
- Tek yüzey türü
- Çok sayıda yüzey türü
- Yüksek derecede yansıtan yüzeyler
Uygulamalar
Çift sayfa algılama uygulaması
Yüksek doğruluk ölçümü ve değişken yüzey türleriyle baş edebilme yeteneği ZX2'nin çift sayfa incelemesi için kullanılmasına imkan tanır.
Konum referans uygulaması
Doğru doğrusal ölçümler ZX2'nin yüksek hız konum referans uygulamaları için kullanılmasına imkan tanıyarak yüksek hızda gerçekleştirilebilir.
Kalınlık ölçümü uygulaması
Kalınlık ölçümü, hesaplama ünitesi aracılığıyla ZX2'de basit hale getirilmiştir. Yüksek seviyede yansıtıcı yüzeylerde bile doğru kalınlık ölçümleri yapılabilir.
Çarpıklık ölçümü
Çoklu ZX2 ünitesi kullanılarak bileşenlerin çarpıklığı ya da eğriliği incelenebilir. Sıcaklık ya da ölçüm yüzeyinin değişkenlik gösterdiği durumlarda bile stabil ölçümler yapılabilir.
Dosya indirme
